【データ数枚でも高精度】外観検査AIのデモを無償公開 – AI総合研究所NABLAS

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工業製品から食料品製造まで幅広い業界のDXを推進

AI総合研究所として活動するNABLAS株式会社 (本社 : 東京都文京区本郷、代表取締役 所長 : 中山 浩太郎、以下「当社」)は、外観検査ソリューションの異常検知技術を手軽に体験できる、外観検査AIのデモサイトを一般公開いたしました。
■本リリースのサマリー

外観検査AIデモを一般公開
任意の画像をアップロードして異常検知AIを体験
少量の良品画像と評価用画像のみで異常の検出を実現

■外観検査AIデモの概要
外観検査AIデモは、当社で提供する製造業向け外観検査AIソリューションを簡易的に体験できるデモです。
従来の外観検査AIでは大量の不良品データを必要とし、データの収集や整理、分類などの作業にも多大な時間と手間が発生し、導入の大きなハードルとなっていました。当社の外観検査AIソリューションでは、ごくわずかな良品画像と評価用画像があれば異常の可視化検出ができるため、大量のデータ蓄積や不良品データの準備がない場合でも外観検査AIを導入していただけます。
デモでは、製造部品や食品などを合わせた計7種類の異常検知サンプルを用意し、ヒートマップにより異常検出箇所を可視化いたします。少量の良品画像と評価用画像があれば、任意の画像でも異常の可視化検出を体験していただけます。

▼下記URLより登録不要でデモをご利用いただけます。
URL:https://demo.nablas.com/visual-inspection
外観検査AIでの異常検知を可視化したヒートマップ

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